菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 產品編號 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是德國菲希爾 (Fischer) 公司生產的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，專為高精度涂層厚度測量和材料成分分析設計。作為 XDL 系列的中端型號，它結合了手動操作的靈活性與電動調節的精準性，廣泛應用于質量控制和材料研究領域。
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產品描述
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230工作原理
XDL230 發射高能 X 射線激發樣品，使原子內層電子躍遷產生特征 X 射線熒光。探測器收集這些熒光的能量和強度信息，通過基本參數法 (FP 法) 計算得出鍍層厚度和元素組成，全程不損傷樣品。
應用領域
1. 電鍍行業
測量各種電鍍層 (鉻、鎳、銅、鋅等) 厚度
監控多層鍍層 (如鎳 / 銅 / 鉻) 的厚度分布
電鍍液成分分析 (快速檢測金屬離子濃度)
2. 電子與半導體
PCB 板鍍層測量 (金手指、焊盤等)
連接器鍍層檢測
微電子器件薄膜測量
3. 汽車與航空
發動機零部件鍍層質量控制
航空航天精密零件涂層檢測 (滿足 ISO 標準)
輪轂、裝飾件鍍層厚度測量
4. 醫療與珠寶
醫用鈦合金、不銹鋼植入物涂層分析
貴金屬飾品鍍層 (金、銀、鉑) 厚度測量
牙科材料涂層檢測
814294500
